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【OVC】專訪Santec陳博士:專注于可調諧激光測試系統 打造中國快速服務體系

摘要:Santec中國公司副總經理陳玨璋博士接受了訊石光通訊網編輯采訪,陳博士表示本次OVC展會重點展示全波段可調諧激光器和快速掃描測試系統等最新先進設備系統,并介紹了中國市場服務體系。

       ICCSZ訊 11月13日,第十六屆“中國光谷”光電子國際博覽會隆重開幕,光測試設備領導者圣德科(上海)光通信有限公司(簡稱Santec)展示一系列先進光測試設備,包括全波段可調諧激光器和快速掃描測試系統等先進測試設備,和光電子行業及客戶交流互動。期間,Santec中國公司副總經理陳玨璋博士接受了訊石光通訊網編輯采訪,陳博士表示本次OVC展會重點展示全波段可調諧激光器和快速掃描測試系統等最新先進設備系統,并介紹了中國市場服務體系。

       成立于1979年的Santec已經擁有40年發展歷史,Santec一直專注在光源、可調諧技術、偏振控制器、濾波器等高性能測試的研發和創新,針對無源器件、波分器件(如CWDM/DWDM/AWG等)的IL和PDL測試需求,提供業界最先進的光測試設備。1987年,Santec率先推出全球第一臺外腔型(External Cavity)可調諧半導體激光器,此后成為可調諧激光器技術的領先者。

       據了解,Santec的全波段可調諧激光器是全波段、高性能的可調諧激光系統,涵蓋了超寬的調諧范圍為1260-1680nm(O-band~U-band)。該系統結合了四個波段的可調諧激光器與光開關模塊(OSU-100)和控制軟件。適用于研發及生產測試。它可以通過電腦等設備通過GIPB、USB等輕松實現遠程操控。它也可以和Santec的其他測試設備同時使用以實現PDL,WDL等測試工作(測量范圍1260nm-1680nm)。

       Santec的快速掃描測試系統,通過實時記錄可以同時獲取可調激光器的輸出功率與經過DUT的傳輸功率,從而精確計算出WDL/PDL的數據。采用Mueller矩陣生成快速的PDL測量方案。此系統也可簡化為使用Santec 數據采集模塊(SPU-100)搭配其他光學的功率計或探測器,可廣泛用于WDL測試。通過采樣和縮放算法在保持測試方案完整性上可以保持最大測試性能輸出。另外,該系統尤其適用于DWDM和高Q光子器件光譜特性的測試。通過快速掃描和精確測量可有效節省時間,以確保測試設備的完整性和有效性。

       陳博士向訊石介紹:“Santec產品優勢是高速掃描,目前每秒能達到200納米,測量的波長動態范圍廣,適合各類復雜的波分器件,比如波長選擇開關(WSS),其可測的線寬寬度達到0.1皮米,這在當前業界是領先的性能。”

作為光測試系統專家,陳博士認為測試設備需要為客戶體驗而考慮,例如性能方面,隨著波分密度越來越小,光源測量在精準度和分辨率上要達到更高的水平。速度方面,主要是更快的掃描速度和數據采集的算法。從客戶研發項目開始,Santec就瞄準了客戶需求,提供一整套定制化、快速精準的測試方案,滿足客戶高效率的研發生產流程。

       如果從產品列表上看,Santec產品并不豐富,卻力求在細分領域做到極致,這是日本科技企業的特點。為保持光通信測試設備的競爭力,客戶服務體系尤其是技術支持就顯得非常重要。據陳博士介紹,Santec日本總部負責研發和生產,在上海設有技術支持中心,近期在深圳也開設新的技術支持中心,主要是即時響應客戶需求,為客戶提供現場設備校準和設備維修服務,這也是提高客戶體驗的重要環節之一。

 

陳玨璋博士(中)與訊石編輯合影

       隨著5G正式商用以及數據中心規模擴大,光器件廠商在面對未來市場海量需求的同時,光器件的性能質量也需要著重保障,快速精準的光測試方案將是企業研發生產的必要選擇。Santec擁有40年光通訊測試技術創新積累,致力于光通信技術革新,將助力光通信客戶更好地迎接5G時代的全新挑戰。

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